| Translated title of the contribution | マルチプロセッサ化されたITRON仕様カーネルにおけるデバッグ環境構築 |
|---|---|
| Original language | Japanese |
| Pages (from-to) | 253 - 254 |
| Journal | 情報科学技術フォーラム |
| Volume | FIT 2003 |
| State | Published - 25 Aug 2003 |
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