極低温下におけるnMOSFETのチャネルホットキャリア（CHC)劣化とF-Nストレス劣化の相違

鈴木達也, 宮木耀平, 三谷祐一郎, Yuichiro MITANI

Research output: Contribution to conference › Presentation

Original language	Japanese
State	Published - 17 Mar 2025
Event	第72回応用物理学会春季学術講演会 - Duration: 14 Mar 2025 → …

Conference	第72回応用物理学会春季学術講演会
Period	14/03/25 → …

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author = "\{鈴木達也\} and \{宮木耀平\} and \{三谷祐一郎\} and Yuichiro MITANI",

year = "2025",

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language = "Japanese",

note = "第72回応用物理学会春季学術講演会 ; Conference date: 14-03-2025",

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