電子顕微鏡によるGe/Si量子ドット構造における混晶化の解析

Translated title of the contribution: 電子顕微鏡によるGe/Si量子ドット構造における混晶化の解析

木口賢紀, Yusuke HOSHI, 大井万史, 太野垣健, 宇佐美徳隆

Research output: Contribution to journal › Misc

Translated title of the contribution	電子顕微鏡によるGe/Si量子ドット構造における混晶化の解析
Original language	Japanese
Pages (from-to)	31 -
Journal	エレクトロセラミックス研究討論会講演予稿集
Volume	32nd
State	Published - 26 Oct 2012

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@article{aac030b7e60343fc94b597266d82d514,

title = "電子顕微鏡によるGe/Si量子ドット構造における混晶化の解析",

author = "木口賢紀 and Yusuke HOSHI and 大井万史 and 太野垣健 and 宇佐美徳隆",

year = "2012",

month = oct,

day = "26",

language = "Japanese",

volume = "32nd",

pages = "31 --",

journal = "エレクトロセラミックス研究討論会講演予稿集",

}

TY - JOUR

T1 - 電子顕微鏡によるGe/Si量子ドット構造における混晶化の解析

AU - 木口賢紀, null

AU - HOSHI, Yusuke

AU - 大井万史, null

AU - 太野垣健, null

AU - 宇佐美徳隆, null

PY - 2012/10/26

Y1 - 2012/10/26

UR - http://jglobal.jst.go.jp/public/201302248826031898

M3 - Misc

VL - 32nd

SP - 31 -

JO - エレクトロセラミックス研究討論会講演予稿集

JF - エレクトロセラミックス研究討論会講演予稿集

ER -