325 X線応力測定におよぼす微視的表面形状の影響(残留応力測定・イメージング,残留応力の評価と応用,オーガナイスドセッション3)

和田 英之, 宮下 大輔, 秋田 貢一, 大谷 眞一, Koichi AKITA

Research output: Contribution to journalMisc

Original languageJapanese
Pages (from-to)303 - 304
Journal学術講演会講演論文集
Volume57
StatePublished - 2008

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