C-2-47 CMOS基板上FETのディエンベディング用オープン・ショートパターンの電磁界解析(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)

Translated title of the contribution: C-2-47 EM Analysis of Open and Short patterns for De-embedding of FETs on CMOS Substrate

三平純希, 平野拓一, 岡田健一, 広川二郎, 安藤真, Takuichi HIRANO

Research output: Contribution to journal › Misc

Translated title of the contribution	C-2-47 EM Analysis of Open and Short patterns for De-embedding of FETs on CMOS Substrate
Original language	Japanese
Pages (from-to)	85 - 85
Journal	Proceedings of the IEICE General Conference
Volume	2011
Issue number	1
State	Published - 28 Feb 2011

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Research output: Contribution to journal › Misc

TY - JOUR

T1 - C-2-47 CMOS基板上FETのディエンベディング用オープン・ショートパターンの電磁界解析(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)

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AU - HIRANO, Takuichi

PY - 2011/2/28

Y1 - 2011/2/28

M3 - Misc

VL - 2011

SP - 85

EP - 85

JO - Proceedings of the IEICE General Conference

JF - Proceedings of the IEICE General Conference

IS - 1

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